新型轉(zhuǎn)動慣量實驗儀KY-IM-C

轉(zhuǎn)動慣量是描述剛體轉(zhuǎn)動中慣性大小的物理量，它與剛體的質(zhì)量分布及轉(zhuǎn)軸位置有關。正確測定物體的轉(zhuǎn)動慣量，在工程技術中具有十分重要的意義。用三線擺法測定剛體的轉(zhuǎn)動慣量是高校理工科物理實驗教學大綱中的一個重要實驗。

　　為了使教學儀器和教學內(nèi)容更好的反映現(xiàn)代科學技術，該儀器采用激光光電傳感器與計數(shù)計時儀相結(jié)合，測定懸盤的扭轉(zhuǎn)擺動周期。通過實驗使學生掌握物體轉(zhuǎn)動慣量的物理概念及實驗測量方法，了解物體轉(zhuǎn)動慣量與哪些因素有關。

　　新型轉(zhuǎn)動慣量實驗儀KY-IM-C是在II型的基礎上改進而成，除了保留原來所有的實驗項目，將原來的底盤換成光學導軌的形式，這樣更加有利于光路的調(diào)整，節(jié)省了實驗時間。應用該儀器實驗者深入研究和分析懸盤振動中等周期振動及周期變化情況。儀器直觀性強，測量準確度高。本儀器是傳統(tǒng)實驗采用現(xiàn)代化技術的典型實例。

　　應用本儀器可以完成以下實驗內(nèi)容：

　　1．學習用三線擺法測定物體的轉(zhuǎn)動慣量。

　　2．測定二個質(zhì)量相同而質(zhì)量分布不同的物體的轉(zhuǎn)動慣量，進行比較。

　　3．驗證轉(zhuǎn)動慣量的平行軸定理。

　　儀器主要技術指標：

　　1．擺線長度 ＞500 mm

　　2．總重量 13.6 Kg

　　3．計時儀分辨率 0.001 S

　　4．計數(shù)預置次數(shù) ≤66次

　　5．實驗樣品 小圓柱體 2個

　　　　　　　　圓盤和圓環(huán) 各1個

產(chǎn)品名稱：激光測距儀/手持式測距儀 產(chǎn)品型號： GM-60D

激光測距儀/手持式測距儀 型號：GM-60D

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2253

數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2253 
概述   
      ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！ 
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。 
    儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào) 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg

產(chǎn)品名稱：不良導體導熱系數(shù)測定儀 產(chǎn)品型號： TDJ-FR5

不良導體導熱系數(shù)測定儀型號：TDJ-FR5  
　　測量不良導體導熱系數(shù)，如真空橡皮板等，儀器由紅外線加熱，熱電偶測溫。